東莞市東電檢測技術(shù)有限公司
詳細摘要： Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于半導(dǎo)體失效分析場景中的封裝、焊點、線路板和器件表面形貌觀察。Phenom XL G3 平均成像時...
產(chǎn)品型號：Phenom XL G3所在地：上海市更新時間：2026-09-02 在線留言
詳細摘要： Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于材料失效分析，幫助觀察斷口、裂紋、腐蝕和表面缺陷形貌。Phenom XL G3 平均成像時間約 ...
產(chǎn)品型號：Phenom XL G3所在地：上海市更新時間：2026-08-17 在線留言
詳細摘要： ParticleX Battery 是飛納推出的全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng)，可用于鋰電池失效分析中的金屬異物識別和來源判斷。
產(chǎn)品型號：ParticleX Battery所在地：上海市更新時間：2026-07-22 在線留言
詳細摘要： 復(fù)坦希失效分析探針臺_射頻探針儀器設(shè)備 失效分析探針臺型號：FTS-FA8FTS-FA系列探針臺是專為失效分析實驗室設(shè)計的一款量測設(shè)備，具光學(xué)特性、激光特性，設(shè)...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2026-08-20 在線留言
詳細摘要： PMST系列igbt性能測試儀器失效分析等集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、 BJT、IGBT，以及SiC、GaN第三...
產(chǎn)品型號：PMST2210所在地：武漢市更新時間：2025-11-27 在線留言
詳細摘要： 手動測試晶圓探針臺在實際得科研生產(chǎn)中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試的探針臺相當昂貴，我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧，功能實用...
產(chǎn)品型號：CPZH系列所在地：濟南市更新時間：2024-10-24 在線留言
詳細摘要： 探針臺手動測試 創(chuàng)譜儀器在實際得科研生產(chǎn)中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試的探針臺相當昂貴，我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧，功...
產(chǎn)品型號：CPJR系列所在地：濟南市更新時間：2024-10-24 在線留言
詳細摘要： 晶圓探針臺 創(chuàng)譜儀器在實際得科研生產(chǎn)中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試的探針臺相當昂貴，我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧，功能實...
產(chǎn)品型號：CPJR系列所在地：濟南市更新時間：2024-10-24 在線留言
詳細摘要： PH綜合表征分析探針臺 創(chuàng)譜儀器在實際得科研生產(chǎn)中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試的探針臺相當昂貴，我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)...
產(chǎn)品型號：PH系列所在地：濟南市更新時間：2024-10-24 在線留言
詳細摘要： 際應(yīng)用中失效銅合金樣品進行失效分析案例，綜合運用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP)、顯微維氏硬度計、金相顯微鏡、掃描電鏡（SEM-EDS）等分析儀器，通過...
產(chǎn)品型號：CI20151所在地：深圳市更新時間：2021-11-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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